DENSsolutions In Situ Solutions
DENSsolutions TEM 原位样品杆
DENSsolutions TEM 原位样品杆可在 TEM 中引入气、液、热、电等多种状态，实时原位观察样品在真实环境下的动态现象。
传统的 TEM 主要用于表征材料结构的成像工具。
在过去的几年里，最先进的 TEM 已经实现了原子分辨率成像和分析，这是通过使用图像或探针像差校正的 TEM 实现的。这些 TEM作为成像工具的性能已被证明在识别各种材料结构方面非常有价值。然而，这些传统的功能仍然不能支持整个研究过程。
由于样品总是被引入静态的高真空环境中，常规的 TEM 无法模拟真实的环境条件(加热、气体、液体等)下的实验过程， 这从根本上限制了 TEM 的价值和可获得的益处。
原位 TEM 的力量
在变化的外部刺激下“现场”观察正在发生的过程是原位时间分辨技术的首要目标。 DENSsolutions 原位样品杆利用基于 MEMS 技术的纳米芯片来精准控制样品的环境，由此在 TEM 中复制真实环境下的应用条件。在 TEM中引入原位环境刺激的能力将系统从静态成像工具转变为动态的多功能实验室。借助这些原位电子显微镜解决方案，研究人员现在能够在一个系统中表征结构、测量性能、评估性能、优化工艺和材料合成
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