Low-Energy Ar Ion Gun to Scanning Electron Microscope
GIB 精修离子束系统

Technoorg Linda 的低能氩离子枪(GIB)适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧化物表面层。

低能量精修离子束,有效去除非晶层

兼容性强,可集成到扫描/双束电镜

可伸缩式离子枪,节省腔室空间

独立的控制系统,不干扰主机台

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Gentle Ion Beam (GIB)
GIB 精修离子束系统

Technoorg Linda 的精修离子束系统(GIB)适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧化物表面层。当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时,其作用尤为明显。有了集成离子枪,就可以在研究之前对样品进行精修。实现高质量样品的另一个重要应用是在双束 SEM / FIB 系统中进行 FIB 样品制备后,对 TEM 样品进行最终抛光和温和的表面清洁。

Linear transfer system
线性传输系统

在 GIB 系统中,氩离子枪安装在带波纹管的线性传输系统中。移动的目的是使氩离子枪在不使用时能够缩回。 该装置的移动范围为 150mm,安装法兰尺寸为外径 114 (DN63),波纹管通孔直径为 68 mm。

Instrument control unit
仪器控制单元

电子元件、闭环冷却系统和氩气压力传感器均位于控制单元内。高纯度(99.999%)氩气用于供应离子源,其流量由高精度针阀调节。控制软件在 Windows 操作系统下运行,可以单独安装在一台计算机上,也可以安装在 SEM 的计算机上。

Integration into a microscope
可与扫描电镜集成

带波纹管的传输系统可通过连接管安装到扫描电镜上。连接管输出法兰的尺寸与相应的 SEM 端口尺寸相匹配。通过线性传输系统提供的离子源流动性,可实现理想的工作距离(15-30 mm)。

Low-energy ion source
低能量氩离子枪

低能量离子枪的直径和长度均为 50mm。氩离子束的能量范围:100keV - 2keV。 2keV 时的最大束流为 70μA。离子束为宽束,半最大全宽(FWHM)为 2mm。

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