在改变温度条件的同时研究材料扩展了传统 TEM 的应用范围,并增强了其非常强大的成像能力。
Wildfire 系统允许研究人员从室温加热到 1,300 °C,并在各个方向实现精准的温度控制和样品稳定性控制。
Wildfire 系统的稳定性确保实现了每个 TEM 的优异分辨率和分析性能,同时可在高温下观察样品动态变化。
模块化设计, 稳定可靠
与小极靴间隙兼容
|
双倾范围大
|
机械稳定性强
|
EDS 优化设计
|
样品杆将 Wildfire Nano-chip 芯片带入 TEM。此款原位样品杆由钛制成,具有非常好的机械稳定性,经过精心设计,可直接集成到 ThermoFisher 或 JEOL 电镜中。
JEOL | Thermo Fisher Scientific | |
加热控制 | 四探针法 | 四探针法 |
温度范围 | RT - 1,300 °C | RT - 1,300 °C |
极靴兼容性 | All | Bio-TWIN, C-TWIN, TWIN, X-TWIN, S-TWIN |
Alpha 角倾转范围 | URP, FHP ≥ ± 15 deg HRP, WGP ≥ ± 20 deg | ≥ ± 25 deg |
Beta 角倾转范围 | URP, FHP ≥ ± 15 deg HRP, WGP ≥ ± 25 deg | ≥ ± 25 deg |
可达到的分辨率 | ≤ 60 pm | ≤ 60 pm |
漂移率 | ≤ 0.5 nm/min | ≤ 0.5 nm/min |
温度准确率 | ≥ 95 % | ≥ 95 % |
温度均匀性 | ≥ 99.5 % | ≥ 99.5 % |
视野范围 | 850 µm2 | 850 µm2 |
-
低维材料
-
纳米技术
-
材料工程
-
能源应用材料
-
软物质
-
“原位 TEM 为一系列技术重要材料的动态结构研究提供了一个新维度。 牛津大学材料系将在许多与催化和低维碳材料相关的项目中使用 DENSsolutions 原位加热样品杆。 我们选择这种解决方案是因为它具有无与伦比的稳定性和控制力。”
Angus Kirkland 教授 | 牛津大学 -
“DENSsolutions 样品杆的高分辨成像和高温下的极高稳定性给我留下了深刻的印象。令人兴奋的是,与其他样品杆相比,使用 DENSsolutions 样品杆拍摄的照片显示出卓越的性能。只要我们拥有 DENSsolutions,我们就可以在模拟现实世界的环境进行原位观察。”
钟虓龑 副教授 | 清华大学 -
“原位透射电子显微镜是纳米尺度材料和器件动态过程表征未来突破的最令人兴奋的途径之一。DENSsolutions 样品加热系统在 Ernst Ruska 中心进行的实验中表现出色。”
Rafal Dunin-Borkowski 教授 | 德国于利希研究所
如果您想要了解更多产品信息,请填写以下信息下载产品手册, 我们收到您的信息后将第一时间回复您。