Wildfire
TEM 原位加热样品杆

Wildfire TEM 原位加热样品杆可以在透射电镜下将样品加热至 1300℃,并实现全方位的、高度精确的温度控制和前所未有的样品稳定性。

  • 选择理由
  • 产品特点
  • 纳米芯片
  • 样品杆
  • 规格参数
  • 应用领域
  • 用户体验
  • 下载中心
Three Reasons to Choose for Wildfire
选择 Wifdfire 原位加热样品杆的原因

在改变温度条件的同时研究材料扩展了传统 TEM 的应用范围,并增强了其非常强大的成像能力。

Wildfire 系统允许研究人员从室温加热到 1,300 °C,并在各个方向实现精准的温度控制和样品稳定性控制。

Wildfire 系统的稳定性确保实现了每个 TEM 的优异分辨率和分析性能,同时可在高温下观察样品动态变化。

Reason 1
研究成果发表在高影响力出版物

不管是在学术界还是工业界,获得“改变游戏规则”的实验结果是任何研究人员的目标。剑桥大学专注于能源相关材料的团队使用 Wildfire 系统来研究钙钛矿太阳能电池及其在加热过程中的降解过程。这些太阳能电池已经变得越来越流行,然而,这些设备在高温下的稳定性和寿命一直备受关注,研究人员借助原位 TEM 了解了其形态和化学成分变化,提高了对钙钛矿太阳能电池降解演变的理解,研究成果也成果发表在 Nature Energy。

Heat-induced degradation of perovskite solar cells. G. Divitini, et al. University of Cambridge Nature Energy 2016. DOI: 10.1038/nenergy.2015.12123

Reason 2
实时动态过程观察

宏观尺度的表现与原子排列及其转变密切相关。在此示例中,使用 DENSsolutions Wildfire 系统将负载在二氧化硅上的 Ru 纳米颗粒加热到 1300 °C。在该温度下,SiO2 球体蒸发,Ru 纳米颗粒变得非常波动,所观察的纳米颗粒从圆形变为方形。由于 DENSsolutions 加热系统的技术可确保高样品稳定性和亚埃级分辨率,因此可以对这种形状变化进行详细研究,从而可以更深入地了解其变化过程。

Courtesy of Gatan. Acquired with Wildfire D6 (now H+ DT) and Gatan OneView IS camera on a Thermo Fisher Scientific (FEI) Tecnai TF20

Reason 3
可靠的高温 EDS 分析

加热时的化学分析对于了解温度引起的动力学信息非常重要,由于加热过程中会产生强烈的红外辐射,会干扰 X 射线光谱采集,因此在高温下进行高质量 EDS 分析非常具有挑战性。 DENSsolutions 提供的技术和实验证据表明,高温下的原位 EDS 分析在大温度范围内是可靠且稳健的技术。借助 DENSsolutions 系统即使在 1000 °C 下也可以进行 EDS 分析。

Acquired on a Wildfire S3. Maps courtesy of Bruker

Product features
产品特点
温度均匀性
Temperature uniformity

闭合的 4 点探针反馈回路在控制刺激和测量反应方面提供了尽量大的多功能性、准确性(≥95%)和温度均匀性(≥99.5%)。

精准的加热控制
Accurate control of heating and power-up

通过四探针法加热可以在所有的温度达到精准控制,温度稳定性偏差 ≤ 0.005°C;温度均匀性偏差小于 0.5%;客户可通过使用 EELS 和 SAED 技术在透射电镜(TEM)中直接验证温度。

超高稳定性
Ultra-high stability

即使温度达到 1000 °C( ΔT = 1000 °C),漂移率也小于 200 nm,样品稳定时间短,即使在高电压下也能达到原子级分辨率。

四探针法加热,超高温度均匀性

最佳温度均匀性:窗口位于微型加热器的中心,可实现最高的温度均匀性,温度均匀性可高达 99% 。此外,周围的金属进一步降低了静电效果。

温度均匀性偏差< 0.5%
窗口可视化设计,定位精准

FIB 薄片:窗口的圆形形状和窗口周围没有遮挡使其成为在任何方向定位  FIB 薄片的理想选择。

高倾转角:垂直于 alpha 倾斜轴放置的细长窗口在高倾斜角度下提供最佳样品可见性,非常适合层析成像。

可视区域: 850 μm²
独特芯片设计,大大减少鼓胀现象

到目前为止,膨胀是不可避免的(膜的高度随着温度的变化而变化,因此图像模糊)。通过 Nano-Chip 设计,可以减少鼓胀现象。

1300 °C 时的鼓胀< 7 μm
Wildfire
Sample Holder
样品杆

模块化设计, 稳定可靠

与小极靴间隙兼容
双倾范围大
机械稳定性强
EDS 优化设计


样品杆将 Wildfire Nano-chip  芯片带入 TEM。此款原位样品杆由钛制成,具有非常好的机械稳定性,经过精心设计,可直接集成到 ThermoFisher 或 JEOL 电镜中。

Product Specification
产品规格参数
  JEOL Thermo Fisher Scientific
加热控制 四探针法 四探针法
温度范围 RT - 1,300 °C RT - 1,300 °C
极靴兼容性 All Bio-TWIN, C-TWIN, TWIN, X-TWIN, S-TWIN
Alpha 角倾转范围 URP, FHP ≥ ± 15 deg HRP, WGP ≥ ± 20 deg ≥ ± 25 deg
Beta 角倾转范围 URP, FHP ≥ ± 15 deg HRP, WGP ≥ ± 25 deg ≥ ± 25 deg
可达到的分辨率 ≤ 60 pm ≤ 60 pm
漂移率 ≤ 0.5 nm/min ≤ 0.5 nm/min
温度准确率 ≥ 95 % ≥ 95 %
温度均匀性 ≥ 99.5 % ≥ 99.5 %
视野范围 850 µm2 850 µm2
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Typical Applications
应用领域
  • 低维材料
  • 纳米技术
  • 材料工程
  • 能源应用材料
  • 软物质
Testimonials
用户体验
  • “原位 TEM 为一系列技术重要材料的动态结构研究提供了一个新维度。 牛津大学材料系将在许多与催化和低维碳材料相关的项目中使用 DENSsolutions 原位加热样品杆。 我们选择这种解决方案是因为它具有无与伦比的稳定性和控制力。”

    Angus Kirkland 教授 | 牛津大学
  • “DENSsolutions 样品杆的高分辨成像和高温下的极高稳定性给我留下了深刻的印象。令人兴奋的是,与其他样品杆相比,使用 DENSsolutions 样品杆拍摄的照片显示出卓越的性能。只要我们拥有 DENSsolutions,我们就可以在模拟现实世界的环境进行原位观察。”

    钟虓龑 副教授 | 清华大学
  • “原位透射电子显微镜是纳米尺度材料和器件动态过程表征未来突破的最令人兴奋的途径之一。DENSsolutions 样品加热系统在 Ernst Ruska 中心进行的实验中表现出色。”

    Rafal Dunin-Borkowski 教授 | 德国于利希研究所
  • “原位 TEM 为一系列技术重要材料的动态结构研究提供了一个新维度。 牛津大学材料系将在许多与催化和低维碳材料相关的项目中使用 DENSsolutions 原位加热样品杆。 我们选择这种解决方案是因为它具有无与伦比的稳定性和控制力。”

    Angus Kirkland 教授 | 牛津大学
  • “DENSsolutions 样品杆的高分辨成像和高温下的极高稳定性给我留下了深刻的印象。令人兴奋的是,与其他样品杆相比,使用 DENSsolutions 样品杆拍摄的照片显示出卓越的性能。只要我们拥有 DENSsolutions,我们就可以在模拟现实世界的环境进行原位观察。”

    钟虓龑 副教授 | 清华大学
  • “原位透射电子显微镜是纳米尺度材料和器件动态过程表征未来突破的最令人兴奋的途径之一。DENSsolutions 样品加热系统在 Ernst Ruska 中心进行的实验中表现出色。”

    Rafal Dunin-Borkowski 教授 | 德国于利希研究所
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