最大放大倍率下的亚微米像素可进行相衬检索,极佳的图像质量低对比分辨率为 2 微米
兼具高分辨成像、应用领域广泛、设备免维护等多重特点,是预算充足客户的最佳首选
适用任意尺寸、任意形状的样品,兼容高达 100 mm、长度 200 mm 的大物体,无需特别的样品制备过程
采用独家的闭管透射式 X 射线源,使用寿命长,免维护,使用成本低
整合了扫描、重构、计算、输出模型等多种功能,软件免费,界面直观易用
总体指标 | |
像素分辨率 | 0.3 µm / 1.2 µm |
空间分辨率 | 2 µm |
最大扫描直径 | 100 mm |
最大扫描高度 | 137 / 163 mm |
样品高度 | 200 mm |
设备尺寸 | 1200 x 640 x 520 (mm) |
设备重量 | 225 kg |
X 射线源 | |
最大电压 | 110 kV |
最大功率 | 16 W |
焦点尺寸 | 2 µm |
滤片数 | 20 |
探测器 | |
图像探测器 |
27MPS CMOS 7 MP 平板探测器 |
射线防护 | 防射线损伤功能 |
流程化处理,界面直观;
软件整合了扫描、重构、计算、输出模型等多种功能,
无需在多种软件中切换, 方便易用;
软件免费,支持远程诊断。
温控样品台可在温度变换环境中原位进行显微CT测量,以研究温度对物体的三维微观结构的影响。温控样品台可以实现从环境温度下降40°C到上升120°C的冷却和加热。通过48MHz内部微处理器,可以通过小于1°C的精度精准控制温度范围。
压缩/拉伸试验台可在现场进行机械测试,研究压缩和拉伸对物体的三维微观结构的影响。压缩和拉伸可以在同一个设备中进行,其精度为最大功率的1%。目前最大载荷为1000N,未来将添加其他负载单元。
自动样品装置可实现样品的自动更换。它位于屏蔽区域外部,因此可以在不中断扫描周期的情况下取出已扫描的样品并加载新样品。
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