Global·EN
CN EN
离子研磨仪(SEM样品切割、研磨、抛光) 离子研磨仪(SEM样品切割、研磨、抛光)
Ion Milling and Final-polishing
SEMPrep2 离子研磨仪

离子束研磨技术是一种非接触式、高精度表面加工技术,它利用高能或低能离子束在材料表面进行破坏和移除,使表面的原子和分子发生微小的位移和变形,从而实现对表面的精细加工。

View More
离子减薄仪(TEM样品减薄、精修) 离子减薄仪(TEM样品减薄、精修)
UniMill Ion Milling
UniMill 离子减薄仪

Technoorg Linda UniMill 离子减薄仪专为快速地制备具备高减薄率的、高质量的 TEM/XTEM 样品而设计。

UniMill 既可以使用全球独家的超高能离子枪进行快速研磨,也可使用专用的低能离子枪进行最终抛光和精修处理。

View More
离子精修仪(TEM 样品表面抛光、精修) 离子精修仪(TEM 样品表面抛光、精修)
Gentle Mill Ion Milling
Gentle Mill 离子精修仪

Technoorg Gentle Mill 离子精修仪产品专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。

Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。

View More
Non contact sample preparation without residual stress
非接触式制样 无残留应力
通过聚焦氩离子束与样品表面的相互作用,去除材料表面的机械损伤层、残余应力层、非晶层、有机污染层,获得干净光滑的样品表面,辅助电镜观测。
Perfect sample surface
完美样品表面
精细电镜制样的最后一步
离子研磨工艺可清洁、抛光或增强机械或化学抛光表面的对比度,去除细小的划痕、研磨材料和涂抹伪影。离子研磨后的样本可用于获得高分辨率的 SEM 或 TEM 图像,满足各种应用需求,如失效分析、表面灵敏分析(EBSD)。
Metal, powder Suitable for various samples and electron microscopes
金属、粉末..适配各类样品与电镜
可用于扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)与聚焦离子束(FIB)的样品制备,适配各品牌电镜,满足各类样品的精细制样需求。
Common problem
Common Problem

Q为什么要使用离子束技术制备样品?

离子束制备样品是目前比较高端的超精密加工技术,属于原子级逐层去除加工,加工精度高,具有非接触式加工,不会产生应力和变形;加工速度快,能量使用率高达90%;加工过程自动化操作,减少人工干预;真空腔中进行,污染少,材料加工表面不氧化等特点。

Q离子束样品制备方法适用于什么类型的样品?

离子束技术适用于电子材料、半导体材料、光伏材料、锂离子电池、页岩、矿石、陶瓷、金属材料、高分子材料、生物材料等类型的用于 SEM 或 TEM 观察的样品制备。

Q使用离子束制备样品能达到什么效果?

采用离子束轰击制备的样品可以达到快速减薄和抛光/精细处理,样品表面光滑、无缺陷,可获得通过SEM/TEM等表征仪器获得样品材料精细的结构。
Explore unknown possibilities
通过 Technoorg Linda
探究未知可能
Improving the resolution of electron microscopy starts with argon ion focusing
提高电镜分辨率从氩离子聚焦开始
Product Application Examples
Product Application Examples
Online Message
Online Message

If you want to know more about the product information, book a sample or consult the after-sales service, you are welcome to call our hotline 400 857 8882 or leave us a message online, we receive your message will be the first time to reply to you.

  • *
  • *
  • *
  • *